加速壽命試驗簡介
隨著電子元器件可靠性水平的不斷提高，采用常規(guī)的正常應(yīng)力下的長期壽命試驗實 在太耗費人力、物力和時間了，有時甚至是不可能的。人們經(jīng)過長期的實踐，提出一種加 速試驗的方法來解決這一矛盾。
所謂加速壽命試驗就是用加大應(yīng)力的方法促使樣品在短時期內(nèi)失效,從而預(yù)測電子 產(chǎn)品在正常儲存條件或工作條件下的可靠性。例如將器件置于比較髙的熱、電等應(yīng)力條 件下使之加速失效，并從中求出加速系數(shù)。這樣就可以在較短時間內(nèi)通過少量樣品的髙 應(yīng)力試驗，推算出產(chǎn)品在正常應(yīng)力下的可靠性水平,以供用戶設(shè)計時參考,或作為工藝對 比及合理制定工藝篩選條件和例行試驗規(guī)范的依據(jù)。同時，結(jié)合失效分析,還可以隨時了 解造成產(chǎn)品不可靠的主要因素(主要失效模式和失效機理），并迅速反饋到有關(guān)設(shè)計或制 造部門加以改進及糾正。因此，加速壽命試驗不僅節(jié)省了人力、物力和時間,并且結(jié)合失 效分析技術(shù)已發(fā)展成為控制、提髙半導體器件等電子元器件可靠性的一種行之有效的好 辦法，所以國內(nèi)外普遍采用。
加速壽命試驗所加的應(yīng)力有溫度、功率、電壓、電流或者振動、沖擊、離心加速度等應(yīng) 力，常用的試驗方法有高溫儲存、高溫工作、超功率工作、卨溫髙濕儲存、高溫反偏等加速 試驗。其中，高溫儲存加速試驗Z容易成功,加電功率的加速壽命試驗比較困難。
從施加應(yīng)力方式的不同又可將加速壽命試驗的應(yīng)力分為恒定應(yīng)力、步進應(yīng)力和續(xù)進 應(yīng)力3種。將樣品分成幾組,每組固定一個保持不變的應(yīng)力(其水平高于正常條件）的試 驗稱為恒定應(yīng)力加速壽命試驗;隨時間分階段逐步增強的試驗稱為步進應(yīng)力加速壽命試 驗;隨時間等速連續(xù)增強應(yīng)力的試驗稱為續(xù)進應(yīng)力加速壽命試驗。兩者比較起來，恒定應(yīng)力加速壽命試驗造成失效的因 素較單一，準確度較高，試驗較容易取得成功?，但試驗周期比較長。
 
加速試驗的主要缺點是產(chǎn)品在高應(yīng)力下的退化方式可能與正常應(yīng)力水平下的不同。 理想的情況應(yīng)該是高應(yīng)力水平作用下的器件退化方式與正常應(yīng)力水平下的應(yīng)仍然相同， 惟一不同的只是時間加速了。也就是說:一小時高應(yīng)力水平的試驗?zāi)墚a(chǎn)生/小時正常應(yīng)力 水平式驗*一樣的效果。如果確定是這樣，可以說達到“真實"加速了。事實上，真實加 速是不能得到的。盡管如此,其試驗結(jié)果仍然有很大的參考價值。加速壽命試驗的優(yōu)點 是可以縮短試驗周期，節(jié)省樣品和費用,缺點是預(yù)測的準確度較低。